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可靠性测试方案

功率半导体可靠性测试主要用于评估器件的寿命，模拟产品在长时间使用或特定环境条件下性能的变化。特别针对器件的工艺可靠性以及芯片性能的可靠性进行实验。


功率器件热特性测试产品优势



  • 测试电流等级到3600A，兼容SiC MOS模块测试；
  • 通道数提升至18个，可支持更多器件同时测试；
  • 具备瞬态、稳态热阻的测试功能；
  • 支持分钟级和秒级功率循环测试；
  • 三个实验通道，通道流量独立控制。


高温电压偏置测试产品优势




  • 兼容Si/SiC/GaN 材料的IGBT、MOSFET、DIODE等功率器件测试，器件形式兼容单管、模块等不同封装。
  • 测试精度高，电流的量程根据实际所测的漏电流自动选择分档，以保证测试精度；
  • 实时监控测试温度、数据，试验每通道电压/工位漏电流检测/试验箱温度检测并描绘出完整变化曲线；
  • 独立高压击穿保护，每工位串联保护器件，防止器件失效造成的测试板损坏；